智能介质损耗测试仪
- 产品名称:智能介质损耗测试仪
- 产品型号:SB2204/03
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智能介质损耗测试仪
的详细介绍
额定工作条件:温度:0~40℃ 相对湿度:30%~85% 供电电源:电压:220V±22V,频率: 50±1Hz
外形尺寸:l×b×h,mm:440×330×400 重量:不大于23kg 功耗:不大于40VA
测量范围::介质损耗(tgδ):0~1 分辨率0.0001
电容量(Cx): *小分辨率0.01pF
内接方式:试验电压 试品电容量
5kV 7.5kV 10kV 3pF~40000PF
1.5kV 2.25kV 3k 10pF~0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV 30pF~1.5μF
外接方式: “外接升压器”方式*高试验电压10kV
“外接Cn”方式(外接高压、外接标准电容器)*高试验电压由标准电容器和被试品决定(Umax=Imax/ωC)
标准回路*大电流50mA(In=UωCn) 被试回路*大电流2A(Ix=UωCx)
内部升压器输出能力: 输出电压 额定输出电流
5kV 7.5kV 10kV 100mA
1.5kV 2.25kV 3kV 300mA
0.5kV 0.75kV 1kV 500mA
基本测量误差:
测量内容 tgδ范围 电容量范围(Cx) 试品类型 基 本 误 差
介质损耗因数tgδ 0~0.5 50pF~60000pF 非接地 ±(1%读数+0.0005)
接地 ±(1%读数+0.0010)
10pF~50pF或60000pF以上 非接地 ±(1%读数+0.0010)
接地 ±(2%读数+0.002)
3pF~10pF 非接地与接地
电容量 50pF以上 ±(1%读数+1pF)
50pF以下 ±(1%读数+2pF)
工作原理
仪器测量线路包括一路标准回路和一路被试回路,标准回路由内置高稳定度标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由8031单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以万计的采样数据处理后进行矢量运算,分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值(Cx)和介质损耗角正切(tgδ),测量结果可靠。现场有干扰时,先利用移相、倒相法减小干扰的影响,再将被试回路测得的电流Ix′与单独测得的干扰电流Id矢量相加,得到真正的测量电流Ix,进而得出正确的测量结果。由图3可见,可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品(正接法)时,“LV”(E)点接地;而测量接地试品(反接法)时,则“HV”点接地。